設備・備品名分野/分類設備使用受託試験
電波暗室 (予約状況確認)EMC/測定
シールドルーム (予約状況確認)EMC/測定
 放射エミッションEMC/測定
 伝導エミッションEMC/測定
 放射イミュニティEMC/測定
 伝導イミュニティEMC/測定
 バルクカレントインジェクション試験EMC/測定
 静電気試験EMC/測定
 電気的ファストトランジエントバースト試験EMC/測定
 雷サージ試験EMC/測定
 電源周波数磁界試験EMC/測定
 電圧ディップ、瞬停試験EMC/測定
 高調波フリッカ試験EMC/測定
 安全規格試験EMC/測定
 残留電荷試験EMC/測定
X線光電子分光分析装置表面分析
電子プローブマイクロアナライザー表面分析
マイクロフォーカスX線CTシステム (予約状況確認)観察
超高精度三次元測定機機械/測定
超高分解能走査型電子顕微鏡表面分析
イオンミリング装置試料加工
高速顕微FTIR画像分析システム有機分析
(顕微は不可)
汎用シミュレーションシステムシミュレーション
振動解析システム解析

関連情報

EMC予約状況
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設備使用料一覧
受託試験手数料一覧
装置の活用例
・(JKA):(公財)JKA補助事業により導入
・※:高度技術研究開発センターの設備